Cpk是Cp和Ca的综合体现，其计算公式为Cpk = Cp * （1 - |Ca|）。其中，Ca代表位置偏差，反映的是数据的集中趋势；Cp代表过程能力，反映的是数据的离散趋势。 CP和CPK均用于描述工序能力，二者的区别在于数据分布中心与公差中心是否一致。当两者一致时，使用CP来衡量；不一致时，则使用CPK。
过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。计算公式：CPK= Min[ （USL- Mu）/3σ，（Mu - LSL）/3σ］。
CPK是指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。CPK在信息安全领域是“Combined Public Key”的缩写，其中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥，为认证系统的芯片化、代理化创造了条件。
CPK和PPK的区别是两者的应用不同、实质不同、意义不同。两者的应用不同：CPK（又叫做过程能力指数）的应用：计算出制程精密度Cp值。PPK的应用：计算工序性能或叫过程性能的指数。两者的实质不同：CPK的实质：表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度。
ppk和cpk的意义区别是：计算方式不同、适用范围不同、应用场景不同。计算方式不同：PPK是过程平均偏差与规格上限偏差的比值，计算公式为PPK=（USL-μ）/（6σ/√n），其中USL是规格上限。CPK是过程平均偏差与规格下限偏差的比值，计算公式为CPK=（μ-LSL）/（3σ/√n），其中LSL是规格下限。
PPK的评价过程是稳定过程，PPK可以不是稳定的过程；CPK的样本容量是30~50，PPK的样本容量是大于或等于100；CPK评价的是单批（几小时 或几天），PPK评价的是多批（几周或几个月）。CPK=33（5的偏离）是4σ的水平，合格率达到9379%。
分析的取样区间不同 CPK：是子组间的变差产生，数据要分组。PPK：整体变差的影响，它不考虑采值的过程。取样方式不同 CPK：取样是进行分组，涉及到子组，子组容量，采值频次。PPK：连续取样也可以间断采值。反应的周期能力不同 CPK：它针对的是一个长期的过程。PPK：短期的过程性能指数。
Cpk与Ppk其公式皆同，其差异在于Sigma计算方式不一样。 Ppk和Cpk的区别点：δ的计算不一样，Ppk仅仅是用统计的方法计算，Cpk用经验公式计算（偏差很小的）样本取样方法不一样：Ppk要短时间内连续生产的，Cpk一般是每天取一组数据（一般5个）。
Cpk和Ppk的计算公式相同，但它们在计算Sigma时的方法有所区别。Ppk使用统计方差的方法来计算，而Cpk则采用经验公式，特别是当偏差较小时。 样本取样方法的不同也是Ppk和Cpk的一个区别。Ppk通常涉及在短时间内连续生产中的样本，而Cpk通常是一天中取一组数据，通常是五个样本。
1、分析的取样区间不同 CPK：是子组间的变差产生，数据要分组。PPK：整体变差的影响，它不考虑采值的过程。取样方式不同 CPK：取样是进行分组，涉及到子组，子组容量，采值频次。PPK：连续取样也可以间断采值。反应的周期能力不同 CPK：它针对的是一个长期的过程。PPK：短期的过程性能指数。
2、CP与CPK的区别： 只有在计量值为双侧公差而且分布中心和标准中心重合的情况下，CP=CPK（此时K=0）。 当质量特性分布中心恰好位于标准上限或下限时，则K=1。 当质量特性分布中心位于标准界限之外时，则K1。K值是越小越好。
3、理论上是没有关系的。他们是针对不同目的而提出，控制线是波动的区间范围，公差是产品的合格范围，但是实际过程中，如果产品都不在合格范围，你去控制也没多大意义，所以优先去提升过程能力，只有过程能力满足时，来控制波动才有意义。
4、PPK：SPC中控制图中用来计算工序能力或叫过程能力的指数，是指考虑过程有偏差时，样本数据的过程性能。
1、cp指数的计算：Cp=T/（6*σ），其中T=允许最大值（Tu）-允许最小值（Tl）；σ越小，其Cp值越大，则过程技术能力越好。Cp是指过程满足技术要求的能力，常用客户满意的偏差范围除以六倍的西格玛的结果来表示。
2、计算公式：CPK= Min[ （USL- Mu）/3σ，（Mu - LSL）/3σ］。双侧规格 双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。
3、cpk计算公式：K=Min[（USL-Mu）/3σ，（Mu-LSL）/3σ]。计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限（USL，LSL），才可顺利计算其值。
4、过程能力指数（CPK）是衡量生产过程稳定性和一致性的重要指标，其计算公式为：CPK = Min[ （USL - μ）/3σ， （μ - LSL）/3σ]，其中USL表示上限规格，μ是过程中心值，LSL为下限规格，σ是数据的标准差。CPK值越高，表示过程能力越强，越能满足技术标准要求。
5、CPK计算公式是：CPK = MIN（ （USL-μ）/3σ， （μ-LSL）/3σ ）。其中，USL代表上规格限，μ代表平均值，LSL代表下规格限，σ代表标准差。这个公式用于计算过程能力指数，即CPK值，它是评估生产过程稳定性和能力的一个重要指标。CPK的计算过程涉及几个关键参数。
6、CPK的计算公式：Cpk=Cp（1-|Ca|）Ca （Capability of Accuracy）：制程准确度。Cp（CapabilityofPrecision）：制程精密度。注意： 计算Cpk时，取样数据至少应有20组数据，而且数据要具有一定代表性。
然后输入此特性所需的上限和下限规范限制。点击右上角的选项按钮，将弹出另一个对话框。它设置了图表参数，目标是你的特征的中心值。下面的6是默认值，这意味着用6西格玛运行图表。CPK，即制程能力指数，一般是大于33小于67的数值最为合适。
Minitab：Minitab是一款专业的统计分析软件，具有强大的数据分析和图表制作功能。其中包括CPK计算模块，用户可以通过输入数据自动计算并生成CPK图表，方便快捷。JMP：JMP是一款数据分析软件，支持多种数据处理和可视化方式。
收集您想要控制的特性的数据并将其输入到Excel中，但只能以列形式。打开Minitab软件，将Excel数据复制粘贴到Minitab中的表格中。然后按顺序点击：统计－－质量工具－－能力分析－－正态。弹出一个对话框。要计算CPK，先要知道以下数据：规格标准值u。（假设B1）规格公差d。（假设C1）一系列样本数据X1-Xn。
CPK如何制作？然后输入此特性所需的上限和下限规范限制。点击右上角的选项按钮，将弹出另一个对话框。它设置了图表参数，目标是你的特征的中心值。下面的6是默认值，这意味着用6西格玛运行图表。CPK，即制程能力指数，一般是大于33小于67的数值最为合适。
cp指数的计算：Cp=T/（6*σ），其中T=允许最大值（Tu）-允许最小值（Tl）；σ越小，其Cp值越大，则过程技术能力越好。Cp是指过程满足技术要求的能力，常用客户满意的偏差范围除以六倍的西格玛的结果来表示。
计算公式：CPK= Min[ （USL- Mu）/3σ，（Mu - LSL）/3σ］。双侧规格 双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。
Cpk是Cp和Ca的综合体现，其计算公式为Cpk = Cp * （1 - |Ca|）。其中，Ca代表位置偏差，反映的是数据的集中趋势；Cp代表过程能力，反映的是数据的离散趋势。 CP和CPK均用于描述工序能力，二者的区别在于数据分布中心与公差中心是否一致。当两者一致时，使用CP来衡量；不一致时，则使用CPK。
计算公式：CPK= Min[ （USL- Mu）/3σ， （Mu - LSL）/3σ]运算方法：过程能力指数运算有5种计算方法：直方图（两种绘图方法）；散布图（直线回归和曲线回归）（5种）；计算剩余标准差；排列图（自动检索和排序）；波动图（单边控制规范，也可以是双边控制规范）。
